日本朝日分光光學膜厚儀OMD-1000產品介紹
這是一種分光膜厚監測監視器,可在氣相沉積過程中用單色光監測基板上的光量變化。也用于本公司自有的薄膜蒸鍍裝置,作為蒸鍍部件制造商的專有技術,作為膜厚監測裝置完成。
以往機型的波長選擇是濾光片型,但新產品搭載了本公司業績良好的分光器,現在可以選擇任意波長。
膜厚變化信號由電壓輸出轉為與個人電腦兼容的數字輸出,控制機構由手動操作轉為個人電腦指令控制。此外,通過I/F直接與個人電腦連接,可以控制膜厚計主體,是一個非常緊湊的系統,不需要像其他制造商那樣的控制器。
帶光譜儀的緊湊型設計
通過提高抗噪性實現高度可靠的膜厚監測(靜電放電測試耐壓±5 kV)
可通過來自 PC 的命令進行自動控制
通過將控制器集成到接收器主體中實現高性價比
模型 | OMD-1000 |
光譜儀類型 | Czerny Turner 型單色 |
波長范圍 | 保證范圍:380 至 900 nm 可操作 范圍:350 至 1100 nm |
波長分辨率 | 狹縫 0.5mm:4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm:8.3nm [546nm] |
波長精度 | ± 1.0 納米 |
小波長饋電 | 0.1nm |
外部控制 | RS232C |
外部輸出端子 | DC0-2V(滿量程) |
采樣間隔 | 100ms 或更多 |
靜電放電試驗耐壓 | ±5kV(實際8kV) |
光源 | 12V100W鹵素燈 |
光強度穩定性 | ±0.1%/小時以下 |
輸入電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
允許輸入電壓 | AC85-132V |
視在功率 | 340VA以下 |
使用環境 | 溫度10-35℃ 濕度20-80% |
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