運用于薄膜厚度檢測的便攜式薄膜測厚儀QNIx系列

發布日期：2021-06-15      瀏覽次數：983

 運用于薄膜厚度檢測的便攜式薄膜測厚儀QNIx系列

 

可從繁瑣的膜厚測量中輕松提高生產效率的便攜式膜厚計。

QNIx 系列是一款無需攜帶沉重的膜厚計即可使用超輕量緊湊型儀器和探頭測量膜厚的產品。
由于無線測量，無需電纜。除了便于將測量數據傳輸到個人計算機之外，它還有助于防止測量過程中發生墜落事故。

QNIx系列的特點

無需薄膜校準即可準確測量薄膜厚度

出廠時輸入16點校準數據交貨。這消除了麻煩的薄膜校準工作的需要，并實現了精確的薄膜厚度測量。

薄膜厚度測量數據傳輸新技術

在傳統的測量儀器中，測量數據是通過用電纜連接儀器本體和個人計算機來傳輸的。QNIx 系列使用，只需將其插入 USB 端口即可傳輸。可以更快、更輕松地查看測量數據。

超輕量無線測量儀

探頭測量的數據無線傳輸到主機。它還可以像傳統產品一樣降低被電纜夾住、擋路并導致墜落事故的風險。此外，探頭重 30g，超輕，您無需隨身攜帶沉重的儀器。

不易折斷且不會在被測物體上留下痕跡的探頭

QNIx 系列探頭被增強塑料包圍，將耐用性提高 30%。即使發生故障，也易于拆卸和維修，因此縮短了維修周期。此外，還附有紅寶石尖DUAN，因此可以安全地進行測量，而不會損壞被測物體（樣品）。

QNIx系列比較規格表

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx 車檢系統	QNIx 好用
可測膜	[F]鐵材料上的非磁性涂層 [N]有色材料上的非導電涂層 [FN]鐵/有色材料上的非磁性/非導電涂層			[FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性、非導電膜厚度
材料識別	黑色金屬和有色金屬材料的 自動識別交換	黑色金屬和有色金屬材料的 自動識別交換	用戶的轉換	黑色金屬和有色金屬材料的 自動識別交換	鐵/有色，自動識別模式轉換
測量原理	[F]磁通量（霍爾效應） [N]渦流
測量范圍	0 至 2,000 μm （選項：5,000 μm）	0-3,000 微米	0 至 2,000 μm （選項：5,000 μm）	0-5,000 微米	0-500微米
分辨率	0.1 μm, 1 μm [M] 0.01 μm	1微米	0.1微米	0.1 微米、1 微米	5微米
配置格式	0 點校正 用戶校準：1 [M] 100 件	0點修正	0點修正	無校準功能	無校準功能
準確性	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大) [T] ± (0.3 μm + 2%)	± (2 μm + 3%)	± (1 μm + 3%)	± (1 μm + 2%) ± 3.5% （2 mm 或更大）	± (10 μm + 5%)
測量速度	1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）