熱像儀 TSI 與傳統(tǒng)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備對(duì)比分析
發(fā)布日期：2024-12-16 瀏覽次數(shù)：50
熱像儀 TSI 與傳統(tǒng)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備對(duì)比分析
提高能源效率是節(jié)能減排的重要主題。該裝置著眼于電子設(shè)備的功耗問(wèn)題，通過(guò)可視化設(shè)備內(nèi)部的熱特性并將其轉(zhuǎn)換為相對(duì)數(shù)值，可以評(píng)估界面的熱擴(kuò)散率。此外，金剛石和 DLC 因其高導(dǎo)熱性而備受關(guān)注，可節(jié)省能源，但評(píng)估其熱擴(kuò)散率極其重要，因?yàn)闊釘U(kuò)散率可使熱量從其界面逸出。此外，據(jù)說(shuō)這些材料之間界面的粘附力會(huì)影響性能。該裝置旨在利用熱量來(lái)評(píng)估界面的粘附力。
特征
主要規(guī)格
| TSI-2 |
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| 基本性能 | 測(cè)量目標(biāo) | 樣品缺陷、異質(zhì)性、紅外輻射率、簡(jiǎn)單溫度、熱性能 |
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| 輸出數(shù)據(jù) | 頻率、距離、幅度、相位、亮度、圖像數(shù)據(jù) |
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| 分析模式 | 點(diǎn)/面分析、相位分析 |
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| 其他配件 | 溫度調(diào)節(jié)加熱器、控制/分析軟件、PC |
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| 測(cè)量環(huán)境 | 溫度 | 室溫~250[℃] |
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| 測(cè)量頻率 | 0.1~10[赫茲] |
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| 紅外攝像機(jī) | 元件數(shù)量 | 336×256 |
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| 元件類(lèi)型 | Vox 微測(cè)輻射熱計(jì) |
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| 像素大小 | 17[微米] |
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| 觀測(cè)波段 | 7.5~13.5[μm] |
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| 幀率 | 30[赫茲] |
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| 解決 | 約30[μm] |
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| 半導(dǎo)體激光器（連續(xù)波） | 波長(zhǎng) | 808[納米] |
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| 最大輸出 | 5[寬] |
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| 正弦調(diào)制 | 0.1~30[赫茲] |
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| 舞臺(tái)活動(dòng)范圍 | 水平（XY軸）方向 | ±15[毫米] |
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| 垂直（Z軸）方向 | +50[毫米] |
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| 電源 | AC100-240[V]、10-5[A]、50/60[Hz] |
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| 裝置本體 | 外形尺寸 | 寬552 × 深602 × 高657 [毫米] |
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| 重量 | 76.5[公斤] |
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| 激光安全標(biāo)準(zhǔn) | 1 類(lèi)，IEC/EN 60825-1:2007 |
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與傳統(tǒng)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備對(duì)比
| | TSI-2 | X射線探傷 | 超聲波顯微鏡 |
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| 你如何獲得對(duì)比度？ | ○熱導(dǎo)率的差異（可以進(jìn)行未有的觀察） | ○X射線透過(guò)量 | ○超聲波反射或速度的差異 |
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| 來(lái)樣加工 | ◎不需要 | ◎不需要 | △需要浸沒(méi) |
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| 解決 | △約20μm | ◎1μm | ○1μm（但與觀察深度存在權(quán)衡關(guān)系） |
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| 穿透力 | △ 適合近地表觀察。 | ◎貴。 CT方法可用。 （金屬很難穿透） | △隨頻率而變化。分辨率也會(huì)改變。 |
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| 觀察范圍 | ◎更換方便。覆蓋范圍廣 | △出于安全考慮，觀察范圍受到限制。 | △安裝在水族箱內(nèi)。需要掃描。觀察范圍有限。 |
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| 觀察時(shí)間 | ◎?qū)崟r(shí) | ◎?qū)崟r(shí) | △需掃描 |
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