光纖式非接觸式位移計(jì)PM-E測(cè)量原理分析

光纖式非接觸式位移計(jì)PM-E測(cè)量原理分析



PM-E是一種通過(guò)光纖將光照射到被測(cè)物體并檢測(cè)反射光，從而可以輕松地以非接觸方式測(cè)量物體位移的裝置。被測(cè)物體的反射光量隨被測(cè)物體與光纖探頭端面的距離（間隙）的不同而不同，如下圖所示。此時(shí)反射光相對(duì)于圖中?（前坡）和?（后坡）區(qū)域的間隙幾乎呈線(xiàn)性變化，因此這些區(qū)域被用于位移測(cè)量。
由于一個(gè)單元具有兩個(gè)位移檢測(cè)特性，您可以在需要高分辨率的測(cè)量中使用前斜率，在需要寬測(cè)量范圍的測(cè)量中使用后斜率。此外，?（光峰位置）對(duì)位移的敏感度低，因此可用于檢測(cè)被測(cè)物的表面狀況和缺陷。



它是一種通過(guò)光纖將光照射到被測(cè)物體并檢測(cè)反射光，從而實(shí)現(xiàn)位移和振動(dòng)的高速非接觸變化的裝置。
由于它利用光進(jìn)行測(cè)量，因此被測(cè)物體上沒(méi)有負(fù)載，不受磁場(chǎng)或電場(chǎng)的影響。
追求小型化和簡(jiǎn)單化的“PM-E"是一款滿(mǎn)足研發(fā)和各種工業(yè)領(lǐng)域廣泛要求的產(chǎn)品。

• ?完quan非接觸式，可廣泛用于測(cè)量振動(dòng)、位移、表面狀態(tài)等。

• ?抗電磁干擾，可進(jìn)行微點(diǎn)測(cè)量

• ?因?yàn)榍靶泵婧秃笮泵娑伎梢允褂茫钥梢酝瑫r(shí)實(shí)現(xiàn)高靈敏度和寬范圍。

• ?維護(hù)簡(jiǎn)單快捷，費(fèi)用低